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2006.05.30

誘導雷とチャーコン

この10年ほど当たり前に使われてきたPWMチャーコンは誘導雷で破壊されることが多い。うっかりすると連日出荷の嵐。
どうも、昨今のチャーコンは大昔のbangbangチャーコンに比べて、サージアブソーバーが爆発飛散していなくても壊れているシーンが多いように思う。

かつて小生の居た会社で製造販売していたのが今も軍事用に使われているのは興味深い。あれはあれで効率の問題があるのだが、つまらないものが長持ちするなんて、つまらないなぁ!!

5月 30, 2006 太陽光発電の技術 |

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コメント

実は当方のチャージコントローラも過去に誘導雷で破損したことがありました。
よしどみさんご指摘のように経験上、過去の半導体サージアブソーバは破損する場合が多いように思います。

昔は、アレスタという名称のガス封入のギャップ式ガラスタイプのが丈夫で効果が半導体のものより優れていたように記憶しています。
経験ではこのタイプのものは放電回数に制約を受け、初期は良く効くのですが、寿命に近づくとその効果に変化があるようですね。
モデムなどを分解すると似たようなものが実装されているようです。

以前のチャーコンに使われているものはバリスタ(半導体)のサージアブソーバが搭載されていましたが、このタイプのものは誘導雷などには効きが悪い印象を持っています。推測ですが、応答速度の問題で効きが悪いのではと思います。

当方の経験ではサージ対策素子の同規格、同じ被試験回路でも半導体タイプか、ガス入りギャップタイプかで効果が違っていました。(後者が優位)・・・ただしこの話は一昔前のですから現在は通用しない可能性もありますね。

耐圧テストで苛められた過去を懐かしく感じましす。

投稿: たいよう | 2006/05/30 7:23:18

ギャップ入りのを使ってみたいのですが、スペースの問題はアッセンブリ単位の世界に限らず、システムという規模にまで及んでいるので中々思うようになりません。
でも、何度でも思いなおし、取組んでみることが大切だと思っています。
応答速度の面も改善の必要がありますね。しかしメーカーから見ても、コストとのバランスが取れないのでしょうね。

投稿: よしどみ | 2006/05/31 3:12:24

こんばんわ~
最近はギャップ式よりZnoに歩がありそうです。
一昔前は、Znoの信頼性がいまいちだったため、ギャップとZnoの直列という製品も見かけましたが今は少ないようです。
製品自体の耐雷強度を上げるとコストも当然上がりますから、基盤のあっちこっちにZnoが多用されているのは仕方が無いのかも知れませんが、同一の接地線を使用している機器が近くにあると、その製品が保護されたために、隣の計装器が壊れるという2次被害も多々見てきました。
いずれにしても、ただ漫然と接地が必要だから結線すればいいと言うものではないですね。
そういうところほど、知識と経験が問われる、腕の見せ所でしょうか。

投稿: aosam | 2006/06/02 20:00:16

確かにギャップで保護するよりはZnOによる吸収分だけ同一回路にぶら下がっている各々の機器にとっての波高値が下がるかもしれません。いっそのこと、ある、優先度の低い機器が雷エネルギーを吸収し破壊エネルギーに変換してしまえば他の機器を守ることも出来ているシーンも容易に想像が付きます。
「その製品が保護されたために、隣の計装器が壊れるという2次被害」は裏を返すとそのようなものだと考えました。
そこで何でもかんでもZnOを使って、一括接地で対応することが推奨されたりしてますが、ガイシ引きでも露出VVFでもない昨今の住宅では、後日工事ではそうも行きません。
保護したい機器の優先順位の問題も考えなければなりませんね。ちょっとチャーコンとは違う話題になってしまいました(笑)

投稿: よしどみ | 2006/06/02 23:00:33

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